Geri

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Saat Başına  2500₺

Hizmet * 

Saat başına ücretlendirme yapılmaktadır.

Stok kodu: VAP-05-25-01 Kategoriler: ,

Altyapımızda bulunan fakat bu listede yer almayan diğer cihazların kullanımı için lütfen irtibata geçiniz.
Üniversite ve kamu kuruluşlarından yapılan taleplere %20 indirim uygulanır.
Kurum içi taleplere %40 indirim uygulanır.


    DENEYSEL TIP UYGULAMA VE ARAŞTIRMA MERKEZİ

    Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) Hizmet Talep Formu


    AFM inceleme talebinizi iletmek için başvuran, numune ve
    deney bilgilerini eksiksiz doldurunuz.

    1

    Başvuranın Bilgileri









    2

    Hizmet ve Fiyatlandırma


    Atomik Kuvvet Mikroskobu Saatlik Kullanımı


    Cihaz: Nanosurf CoreAFM


    Hizmet kodu: VAP-05-25-01

    2.500 TL
    / saat


    Cantilever başvuru sahibi tarafından sağlandığında
    geçerlidir.



    Tahmini Toplam Hizmet Bedeli


    Saatlik birim fiyat × talep edilen kullanım süresi


    2.500 TL

    3

    Numune Güvenlik Bilgileri

    4

    Numune Bilgileri

    Bir başvuruda en fazla dört numune kabul edilir. Numuneler
    düzlemsel katı yüzey olarak hazırlanmalı; toz veya sıvı
    olmamalıdır.

    01
    Numune Bilgileri





    5

    Deney Bilgileri


    6

    Numune Kabul Kriterleri ve Onay

    Genel Numune Kabul Kriterlerini Görüntüle

    1. Numunelerin kuruma teslim edilene kadar uygun
      koşullarda muhafazasından başvuru sahibi
      sorumludur.

    2. AFM analizi için en az bir ay önceden başvuru
      yapılmalı ve deney sorumlusu ile iletişime
      geçilmelidir.

    3. Özel saklama koşulları form üzerinde
      belirtilmelidir.

    4. Numuneler uygun polipropilen veya cam kaplarda,
      ağzı kapalı olarak teslim edilmelidir.

    5. Numune ambalajlarında okunaklı etiket bulunmalı
      ve numuneler 1’den başlanarak kodlanmalıdır.

    6. Hizmet talep formu numunelerle birlikte deney
      sorumlusuna teslim edilmelidir.

    Numune Boyutu ve Hazırlama Kriterlerini Görüntüle

    • Numune hazırlama işlemi başvuru sahibi tarafından
      yapılmalıdır.

    • İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel
      olmalıdır.

    • Mikroskop camı veya silisyum çip gibi düz yüzeyler
      kullanılmalıdır.

    • Numune, çapı en fazla 15 mm olan daire veya
      kenarları en fazla 10 mm olan kare yüzey üzerinde
      hazırlanmalıdır.

    • Yerleştirme yüzeyiyle birlikte toplam numune
      kalınlığı 2 mm’den düşük olmalıdır.

    • İncelenecek yüzey yapışkan olmamalıdır.

    • Z eksenindeki yükseklik 10 µm’den düşük olmalıdır.

    • Maksimum XY tarama aralığı 100 µm’dir.

    • Yalnızca düzlemsel katı yüzeyler incelenir. Toz
      veya sıvı numuneler kabul edilmez.

    • Numuneler önceden gönderilmemeli ve bir başvuruda
      en fazla dört numune bulunmalıdır.


    Form gönderildiğinde hizmet ve tahmini fiyat bilgileri
    ilgili birime e-posta yoluyla iletilecektir.

    İlgili ürünler