Kritik Nokta Kurutucu (CPD)
Leica EM CPD300
Cihaz Tanımı
Kritik nokta kurutma prosedürü, SEM uygulamaları için hassas numunelerin kurutulması için etkili bir yöntemdir. Sıvıdan gaza geçerken yüzey gerilimi nedeniyle zarar görebilecek numunenin yüzey yapısını korumak için kullanılır.
- 5-40oC veya -40 ile 60ºC arasında sıcaklık kontrolü yapılabilmektedir.
- Numune haznesi 175 ml hacmindedir.
- Sistem tamamen otomatik çalışmaktadır.
- Kurutmak için CO2 kullanmaktadır.
- Biyolojik ve endüstriyel numunelerin SEM uygulamalarında kullanılabilmek üzere kritik nokta kurutma
işleminin yapmak bu sistemde mümkündur
