Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Taramalı Elektron Mikroskobu (Scanning Electron microscope)
SEM(HİTACHİ, SU7000 Field Emission SEM)
Cihaz Tanımı
Elektron mikroskobu malzemelerin mikro/nano boyutta görüntülenmesi, Malzemelerin elementel ve kimyasal kompozisyonlarının belirlenmesi için kullanılmaktadır.
- Akselerasyon voltajı 30 kV
- Nokta çözünürlüğü; 0.8 nm (@15kV), 0.9 nm (@1kV)
- Örnek tablası eğim açısı -5~70°,
- Dedektörler : UD (Upper Detector), MD (Middle Detector), LD (Lower Detector), UVD (Ultra Variable Pressure Detector)
- Değişken Basınç (VP) Modu
- EDX Dedektörü
- STEM Dedektörü
- Mikro/nano yapiların görüntülenmesi
- Biyolojik örneklerin yapılarının görüntülenmesi
- STEM Görüntüleme
- Noktasal olarak malzemelerin elementel ve kimiyasal kompozisiyonlarinin incelenmesi
- EDX haritalama
